渦流測(cè)厚儀的測(cè)試原理

渦流涂層測(cè)厚儀通常是一種接觸式的儀器，而不是非接觸式的。在測(cè)量時(shí)，探頭需要與被測(cè)涂層表面接觸，并在涂層表面上移動(dòng)以測(cè)量涂層厚度。探頭通常是一個(gè)圓錐形或圓盤形的傳感器，其下端是一個(gè)涂有導(dǎo)電涂層的絕緣基座，涂層的厚度可以通過檢測(cè)電容器電容的變化來計(jì)算。

渦流涂層測(cè)厚儀利用渦流感應(yīng)原理，當(dāng)交變電流通過探頭的線圈時(shí)，在被測(cè)涂層表面產(chǎn)生一個(gè)交變磁場(chǎng)。涂層內(nèi)部的渦流會(huì)抵消掉探頭線圈產(chǎn)生的磁場(chǎng)，使探頭感應(yīng)到的磁場(chǎng)變?nèi)酢u流的強(qiáng)度與涂層厚度成反比，因此可以通過測(cè)量探頭感應(yīng)到的磁場(chǎng)變化來計(jì)算涂層的厚度。

渦流涂層測(cè)厚儀適用于測(cè)量電絕緣性或部分絕緣性涂層在導(dǎo)體表面的厚度。對(duì)于非絕緣性涂層，渦流測(cè)厚儀的準(zhǔn)確性可能會(huì)受到干擾，因此在使用時(shí)需要進(jìn)行校準(zhǔn)，并根據(jù)被測(cè)涂層的類型和特性選擇合適的探頭。